快速溫變?cè)囼?yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備

簡(jiǎn)要描述：快速溫變?cè)囼?yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備
快速溫度變化試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

產(chǎn)品型號(hào)： TEB-225PF

所屬分類：快速溫濕度變化試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-07-03

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

聯(lián)系我們留言詢價(jià)

詳情介紹

快速溫變?cè)囼?yàn)箱六孔新版芯片研發(fā)可靠性設(shè)備

快速溫變?cè)囼?yàn)（又線性/非線性快速溫變?cè)囼?yàn)箱），是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果.